Abstract
Ultra-fast diffraction and phase contrast imaging experiments on crack propagation in silicon, reported in the current issue of IUCrJ, are reviewed in the light of our present knowledge and its industrial importance.
| 期刊: | IUCrJ | 影响因子: | 3.600 |
| 时间: | 2016 | 起止号: | 2016 Mar 1;3(Pt 2):86-7 |
| doi: | 10.1107/S2052252516002359 | ||
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