Abstract
JMI guest editors introduce articles collected in the JMI Special Section on Hard X-Ray Tomography with Micrometer Resolution, a snapshot of this important niche area featured by hard x-ray tomography at the micrometer level.
Special Section Guest Editorial: Hard X-Ray Tomography with Micrometer Resolution
特刊客座社论：微米级分辨率的硬X射线断层扫描
阅读：1
| 期刊： | Journal of Medical Imaging | 影响因子： | 1.700 |
| 时间： | 2022 | 起止号： | 2022 May;9(3):031501 |
| doi： | 10.1117/1.JMI.9.3.031501 | ||
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