日期 影响因子
日期:
2020 年 — 2026 年
2020
2021
2022
2023
2024
2025
2026
影响因子:
–

The NIST silicon lattice comparator upgrade

NIST硅晶格比较器的升级

期刊:Review of Scientific Instruments
影响因子:1.7
doi:10.1063/5.0169355
Mendenhall, Marcus H; Cline, James P; Szabo, Csilla I; Henins, Albert
发表日期：2023
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Pendellösung interferometry probes the neutron charge radius, lattice dynamics, and fifth forces

彭德尔奥松干涉测量法可探测中子电荷半径、晶格动力学和第五种力。

期刊:Science
影响因子:45.8
doi:10.1126/science.abc2794
Heacock, Benjamin; Fujiie, Takuhiro; Haun, Robert W; Henins, Albert; Hirota, Katsuya; Hosobata, Takuya; Huber, Michael G; Kitaguchi, Masaaki; Pushin, Dmitry A; Shimizu, Hirohiko; Takeda, Masahiro; Valdillez, Robert; Yamagata, Yutaka; Young, Albert R
发表日期：2021
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The NIST Vacuum Double-Crystal Spectrometer: A Tool for SI-Traceable Measurement of X-Ray Emission Spectra

NIST真空双晶光谱仪：用于可溯源至国际单位制的X射线发射光谱测量的工具

期刊:Journal of Research of the National Institute of Standards and Technology
影响因子:1.3
doi:10.6028/jres.126.049
Szabo, Csilla I; Cline, James P; Henins, Albert; Hudson, Lawrence T; Mendenhall, Marcus H
发表日期：2021
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Contemporary x-ray wavelength metrology and traceability

现代X射线波长计量和溯源

期刊:Radiation Physics and Chemistry
影响因子:3.3
doi:10.1016/j.radphyschem.2019.108392
Hudson, L T; Cline, J P; Henins, A; Mendenhall, M H; Szabo, C I
发表日期：2020
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The Certification of Standard Reference Material 1979: Powder Diffraction Line Profile Standard for Crystallite Size Analysis

1979 年标准参考物质认证：用于晶粒尺寸分析的粉末衍射线轮廓标准

期刊:Journal of Research of the National Institute of Standards and Technology
影响因子:1.3
doi:10.6028/jres.125.020
Cline, James P; Mendenhall, Marcus H; Ritter, Joseph J; Black, David; Henins, Albert; Bonevich, John E; Whitfield, Pamela S; Filliben, James J
发表日期：2020
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The Molybdenum K-shell X-ray Emission Spectrum

钼K壳层X射线发射光谱

期刊:Journal of Physics B-Atomic Molecular and Optical Physics
影响因子:1.5
doi:10.1088/1361-6455/ab45d6
Mendenhall, Marcus H; Hudson, Lawrence T; Szabo, Csilla I; Henins, Albert; Cline, James P
发表日期：2019
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High x-ray resolving power utilizing asymmetric diffraction from a quartz transmission crystal measured in the 6  keV to 22  keV energy range

利用石英透射晶体的非对称衍射，在 6 keV 至 22 keV 能量范围内测量了高 X 射线分辨率。

期刊:
影响因子:
doi:10.1364/AO.58.005225
Seely, John F; Galtier, Eric; Hudson, Lawrence T; Henins, Albert; Feldman, Uri
发表日期：2019
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X-ray spectrometer having 12 000 resolving power at 8 keV energy

X射线光谱仪，在8 keV能量下分辨率为12000。

期刊:Review of Scientific Instruments
影响因子:1.7
doi:10.1063/1.4999995
Seely, John F; Hudson, Lawrence T; Henins, Albert; Feldman, Uri
发表日期：2017
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High-precision measurement of the X-ray Cu Kα spectrum

高精度测量X射线Cu Kα谱

期刊:Journal of Physics B-Atomic Molecular and Optical Physics
影响因子:1.5
doi:10.1088/1361-6455/aa6c4a
Mendenhall, Marcus H; Henins, Albert; Hudson, Lawrence T; Szabo, Csilla I; Windover, Donald; Cline, James P
发表日期：2017
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The Lattice Spacing Variability of Intrinsic Float-Zone Silicon

本征浮区硅的晶格间距变化

期刊:Journal of Research of the National Institute of Standards and Technology
影响因子:1.3
doi:10.6028/jres.122.024
Kessler, Ernest G; Szabo, Csilla I; Cline, James P; Henins, Albert; Hudson, Lawrence T; Mendenhall, Marcus H; Vaudin, Mark D
发表日期：2017
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