日期 影响因子
日期:
2020 年 — 2026 年
2020
2021
2022
2023
2024
2025
2026
影响因子:
–

SIMS of Organic Materials-Interface Location in Argon Gas Cluster Depth Profiles Using Negative Secondary Ions

有机材料的二次离子质谱分析——利用负二次离子进行氩气团簇深度剖面界面定位

期刊:Journal of the American Society for Mass Spectrometry
影响因子:3.1
doi:10.1007/s13361-018-1905-2
R Havelund, M P Seah, M Tiddia, I S Gilmore
发表日期：2018
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