Four-Point Measurement Setup for Correlative Microscopy of Nanowires
用于纳米线关联显微成像的四点测量装置
期刊:Nanomaterials
影响因子:4.3
doi:10.3390/nano13172451
Pruchnik, Bartosz C; Fidelus, Janusz D; Gacka, Ewelina; Kwoka, Krzysztof; Pruchnik, Julia; Piejko, Adrianna; Usydus, Łukasz; Zaraska, Leszek; Sulka, Grzegorz D; Piasecki, Tomasz; Gotszalk, Teodor P