日期:
2020 年 — 2026 年
2020
2021
2022
2023
2024
2025
2026
影响因子:

XPS depth profiling of nano-layers by a novel trial-and-error evaluation procedure

利用一种新颖的试错评估方法对纳米层进行XPS深度剖析

Racz, Adel Sarolta; Menyhard, Miklos

Tungsten Carbide Nanolayer Formation by Ion Beam Mixing with Argon and Xenon Ions for Applications as Protective Coatings

利用氩离子和氙离子混合离子束形成碳化钨纳米层,并将其应用于保护涂层

Racz, Adel Sarolta; Kun, Peter; Kerner, Zsolt; Fogarassy, Zsolt; Menyhard, Miklos